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老化测试机控制器FLASH程序破坏

时间:2018-11-28 22:16来源:海猎人

  老化测试机控制器FLASH程序破坏

  【故障】一台老化测试控制器,出现与LED数码管显示屏不能通信故障,用户已经对调测试显示屏是好的。如图6.39所示。

  【检修】此数码管显示屏有-个特点,即需连接主机后,由主机与其握手通信,如果主机原因引起通信故障,显示器就无显示。拆开主机,找到相关通信接口,发现主机和显示器的通信是通过两个光耦P121来控制的,一个用于接收信号,另一个用于发送信号,如图6.40所示。目测检查主机没有元件烧坏及腐蚀痕迹,通信线检查无断线现象,各组电源电压正常,平稳无纹波。取下光耦测试正常,与输人输出通信光耦相连接的元件如电阻、三极管、74HC14芯片都正常。通电检查CPU电路起振有波形,因板上元件不多,除去两片带程序的芯片29F040和24C04以外,将可测之74系列逻辑芯片全部取下测试,都是好的。
 

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图 6. 3 9 老化测试机控制器主机和显示器

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图 6. 4 0 老化测试机控制板

 

  最后怀疑程序芯片有问题,板上29F040是FLASH存储器芯片,24C04是串行输人输出的存储器芯片,这两种芯片都是可以重复擦写的。试着用程序烧录器读出程序后,存入电脑,再往原芯片写人读出的程序,这样不会将程序弄丢。发现24C04重新写人没有问题,而29F040重新写人出错,不能擦除清空内部程序,判断29F040已经损坏。在拔出29F040芯片后还发现居然电路板上1C座的方向焊反了,检查1C座的引脚没有明显的拆焊痕迹,应该出厂时就是焊反的,估计用户有试图维修该电路板,试图用好板上的29F040代替坏板上的,但受1C座焊反误导,将芯片插反,等明白过来后已经通电造成损坏。程序损坏只有找相同芯片复制才可以修复,询用户得知还有相同机器一台,嘱其带来,读出29F040的程序,买新的29F040芯片,写人好机程序后,联机通电,显示一切正常。

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